日本napson非接觸式硅錠壽命測(cè)量?jī)x

產(chǎn)品型號(hào)： HF-90R

所屬分類：

產(chǎn)品時(shí)間：2025-05-03

簡(jiǎn)要描述：日本napson非接觸式硅錠壽命測(cè)量?jī)xHF-90R
樣品以JIS Tanzaku形狀進(jìn)行測(cè)量（單晶硅）
通過光電導(dǎo)衰減法進(jìn)行非接觸式測(cè)量
通過示波器和PC進(jìn)行數(shù)據(jù)處理（軟件）

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日本napson非接觸式硅錠壽命測(cè)量?jī)xHF-90R

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 樣品以JIS Tanzaku形狀進(jìn)行測(cè)量（單晶硅）
• 通過光電導(dǎo)衰減法進(jìn)行非接觸式測(cè)量
• 通過示波器和PC進(jìn)行數(shù)據(jù)處理（軟件）

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

硅錠穩定發展，硅塊，JIS tanzaku形狀

測(cè)量尺寸

JIS Tanzaku形狀（請(qǐng)聯(lián)系我們）

測(cè)量范圍

約100至5,000μS
（電阻率在10 至5kΩ ·cm的范圍內(nèi)）

日本napson非接觸式硅錠壽命測(cè)量?jī)xHF-90R

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 樣品以JIS Tanzaku形狀進(jìn)行測(cè)量（單晶硅）
• 通過光電導(dǎo)衰減法進(jìn)行非接觸式測(cè)量
• 通過示波器和PC進(jìn)行數(shù)據(jù)處理（軟件）

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

硅錠明顯，硅塊更好，JIS tanzaku形狀

測(cè)量尺寸

JIS Tanzaku形狀（請(qǐng)聯(lián)系我們）

測(cè)量范圍

約100至5,000μS
（電阻率在10 至5kΩ ·cm的范圍內(nèi)）