日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀

產(chǎn)品型號： PVE-80

所屬分類：其他設(shè)備

產(chǎn)品時間：2025-08-02

簡要描述：日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀PVE-80
一種非接觸式電阻測量系統(tǒng)業務指導，使用脈沖電壓激勵方法作為測量原理充足，可在不損壞樣品的情況下進行測量基礎上。

聯(lián)系我們 在線咨詢

日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀PVE-80

產(chǎn)品特點

• 一種非接觸式電阻測量系統(tǒng)應用的選擇，使用脈沖電壓激勵方法作為測量原理合作關系，可在不損壞樣品的情況下進行測量真諦所在。

• 節(jié)省空間的設(shè)計主體外殼，便攜式可移動臺

• 通過PC（軟件）進行簡單的測量操作結構不合理，數(shù)據(jù)存儲和管理

• 測量顯示單元可以根據(jù)應(yīng)用（薄層電阻提供深度撮合服務，電導(dǎo)率深刻內涵，電導(dǎo)率）進行更改

  *本產(chǎn)品使用由我公司與千葉大學(xué)聯(lián)合開發(fā)的脈沖電壓激勵方法（專li號5386394）。

測量規(guī)格

測量目標

與新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管最為突出，DLC逐步改善，石墨烯，銀納米線等）與
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
與化合物半導(dǎo)體相關(guān)（GaAs Epi發行速度，GaN Epi，InP強大的功能，Ga等）
其他（*查詢）請給我）

測量尺寸

?A4尺寸（W300 x D210mm）

測量范圍

50μ?1mΩ/平方