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日本advance riko周期加熱法熱擴(kuò)散率測(cè)量裝置 FTC系列 提供一種能夠簡(jiǎn)單地評(píng)價(jià)用閃光法難以測(cè)量的薄膜樣品的方法深刻認識。 采用交流焦耳加熱法測(cè)量薄膜聚合物，紙張和陶瓷等固體在厚度方向上的熱擴(kuò)散率建立和完善。

日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測(cè)量?jī)xLaserPIT 該裝置是通過(guò)掃描激光加熱AC法用于諸如薄膜特征更加明顯，薄板和薄膜的薄板材料的面內(nèi)熱擴(kuò)散率測(cè)量裝置增多。 在高導(dǎo)熱膜的情況下，也可以測(cè)量亞微米薄膜。

日本advance掃描熱探針顯微圖像STPM-1000 該設(shè)備是一種分布測(cè)量設(shè)備估算，可以同時(shí)評(píng)估塞貝克系數(shù)和熱導(dǎo)率。同時(shí)評(píng)估可以輕松評(píng)估熱電特性達到。還可以評(píng)估功能梯度材料深入各系統，多層基板和有機(jī)材料的熱導(dǎo)率分布。

日本advance氙閃光法熱擴(kuò)散率測(cè)量裝置TD-1系列 該裝置可以評(píng)估和測(cè)量散熱膜的厚度方向和內(nèi)表面各向異性的可能性。通過(guò)采用氙氣燈進一步推進，減少了對(duì)樣品的侵害，并且通過(guò)使用專yong附件服務品質，可以容易地測(cè)量樣品的各向異性傳遞。