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日本YAMABUN山文電氣在線激光測(cè)厚裝置NME-RM, NSM-RM PP/PS/多層/薄膜/片材的理想選擇 以非接觸方式測(cè)量厚度而非基重 座椅制造過(guò)程中的全寬測(cè)量 無(wú)需許可證服務、許可證或創(chuàng)建校準(zhǔn)曲線即可輕松操作
日本filmetrics對(duì)準(zhǔn)自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)F60 F60自動(dòng)測(cè)繪膜厚測(cè)量系統(tǒng)是F50的高duan機(jī)型合理需求,具有缺口檢測(cè)科普活動、自動(dòng)基線功能和互鎖機(jī)制更優質。 只需將樣品放在載物臺(tái)上提供了有力支撐,然后單擊測(cè)量按鈕即可自動(dòng)執(zhí)行對(duì)齊不久前、基線和膜厚映射緊迫性。
日本filmetrics自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)F50 F50自動(dòng)測(cè)繪膜厚測(cè)量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測(cè)量功能與自動(dòng)高速載物臺(tái)相結(jié)合的系統(tǒng)。 以過(guò)去無(wú)法想象的速度測(cè)量點(diǎn)的膜厚和折射率機構。它支持從2英寸到450毫米的硅基板非常激烈,并且可以任何測(cè)量點(diǎn)。
日本filmetrics臺(tái)式膜厚測(cè)量系統(tǒng)F3-CS F3-CS是測(cè)量小樣品的最佳測(cè)量系統(tǒng)更適合。與測(cè)量臺(tái)集成的測(cè)量系統(tǒng)使其易于攜帶技術交流。 只需將樣品的測(cè)量面朝下放置在載物臺(tái)上即可進(jìn)行測(cè)量,約1秒即可測(cè)量出膜厚和折射率引人註目。
日本filmetrics板厚測(cè)量系統(tǒng)F3-sX 可以高精度測(cè)量硅基板和玻璃基板的厚度關註。 通過(guò)安裝最初開發(fā)的具有高波長(zhǎng)分辨率的光譜儀,可以測(cè)量高達(dá) 3 mm 的厚膜拓展。