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產(chǎn)品型號(hào): F60
所屬分類:測(cè)厚儀
產(chǎn)品時(shí)間:2025-05-03
簡(jiǎn)要描述:日本filmetrics對(duì)準(zhǔn)自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)F60F60自動(dòng)測(cè)繪膜厚測(cè)量系統(tǒng)是F50的高duan機(jī)型要求,具有缺口檢測(cè)、自動(dòng)基線功能和互鎖機(jī)制認為。只需將樣品放在載物臺(tái)上運行好,然后單擊測(cè)量按鈕即可自動(dòng)執(zhí)行對(duì)齊、基線和膜厚映射各領域。
日本filmetrics對(duì)準(zhǔn)自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)F60
F60自動(dòng)測(cè)繪膜厚測(cè)量系統(tǒng)是F50的高duan機(jī)型顯示,具有缺口檢測(cè)、自動(dòng)基線功能和互鎖機(jī)制的有效手段。
只需將樣品放在載物臺(tái)上共同努力,然后單擊測(cè)量按鈕即可自動(dòng)執(zhí)行對(duì)齊、基線和膜厚映射真正做到。
半導(dǎo)體 | 抗蝕劑發展機遇、氧化膜、氮化膜性能、非晶/多晶硅等 |
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日本filmetrics對(duì)準(zhǔn)自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)F60
模型 | F60-t | F60-t-UV | F60-t-近紅外 | F60-t-EXR |
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測(cè)量波長(zhǎng)范圍 | 380 – 1050nm | 190 – 1100nm | 950 – 1700nm | 380 – 1700nm |
膜厚測(cè)量范圍 | 20nm – 70μm | 5nm – 40μm | 100nm – 250μm | 20nm – 250μm |
準(zhǔn)確性 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | ± 0.2% 薄膜厚度 | |
2納米 | 1納米 | 3納米 | 2納米 |
可以測(cè)量硅晶片上的氧化膜、抗蝕劑等。只需設(shè)置樣本強化意識,對(duì)齊聽得進、參考等將*自動(dòng)完成。