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產(chǎn)品型號： F50
所屬分類：測厚儀
產(chǎn)品時間：2025-05-03
簡要描述：日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結合的系統(tǒng)。以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板覆蓋，并且可以任何測量點。
日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50
F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結合的系統(tǒng)進展情況。
以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率重要的作用。它支持從2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何測量點研究。
還有與大型玻璃基板兼容的可選產(chǎn)品搶抓機遇。
結合基于光學干涉原理的膜厚測量功能和自動高速載物臺的系統(tǒng)
以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率
兼容2英寸至450毫米的硅基板，可任何測量點
日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50
| 半導體 | 抗蝕劑去創新、氧化膜結論、氮化膜、非晶/多晶硅體系、拋光硅片足夠的實力、化合物半導體襯底、?T襯底等提高。 |
|---|---|
| 平板 | 單元間隙全會精神、聚酰亞胺、ITO又進了一步、AR膜、 各種光學膜等生產製造。 |
| 薄膜太陽能電池 | CdTe拓展基地、CIGS、非晶硅等 |
| 引 | 砷化鋁鎵（AlGaAs）多元化服務體系、磷化鎵（GaP）等 |
薄膜厚度分析 FIL Mapper 軟件具有強大而*的薄膜厚度分析算法和可以讓您輕松測量點的功能業務。
