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在工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域系統性,光源的選擇直接影響檢測(cè)效率和精度設計。日本山田光學(xué)的YP-150I和Sena的185LE均采用鹵素?zé)艏夹g(shù),但在設(shè)計(jì)理念和應(yīng)用場(chǎng)景上存在顯著差異品率。本文將從照度善謀新篇、照射距離、熱管理開展面對面、適用行業(yè)等維度進(jìn)行對(duì)比供給,幫助用戶根據(jù)需求選擇優(yōu)方案。
參數(shù) | 山田光學(xué) YP-150I | Sena 185LE |
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照度 | 400,000Lx(30mmφ) | 400,000Lx(55mmφ) |
照射距離 | 140mm(短距離聚焦) | 310mm(長(zhǎng)距離適用) |
光束直徑 | 30-50mm(可調(diào)) | 55mm(固定) |
光源類型 | 150W 鹵素?zé)簦ɡ溏R技術(shù)) | 185W 鹵素?zé)簦◤?qiáng)制空冷) |
燈泡壽命 | 50小時(shí) | 未明確(類似鹵素?zé)魤勖?/span> |
冷卻方式 | 強(qiáng)制風(fēng)冷 | 強(qiáng)制空冷 |
調(diào)光方式 | 兩級(jí)調(diào)光(高/低) | 20%-100% 無(wú)級(jí)調(diào)光 |
適用行業(yè) | 半導(dǎo)體便利性、玻璃拓展應用、精密檢測(cè) | TFT面板、觸摸屏實事求是、晶圓檢測(cè) |
YP-150I:短距離超高照度自動化方案,適合微米級(jí)缺陷檢測(cè)
照射距離僅 140mm,但能在 30mm直徑 范圍內(nèi)提供 400,000Lx 超高照度結構,適合檢測(cè) <0.2μm 的劃痕空間廣闊、異物等微小缺陷。
冷鏡技術(shù)減少熱影響效果,適用于溫度敏感材料(如半導(dǎo)體晶圓、光學(xué)玻璃)。
185LE:長(zhǎng)距離大范圍照明服務水平,適合產(chǎn)線自動(dòng)化檢測(cè)
照射距離 310mm線上線下,光束直徑 55mm,適合大尺寸面板(如TFT更合理、觸摸屏)的均勻照明有序推進。
無(wú)級(jí)調(diào)光(20%-100%)適應(yīng)不同反光率材料,適用于印刷品、濾光片等色彩敏感檢測(cè)深入開展。
YP-150I:冷鏡技術(shù) + 強(qiáng)制風(fēng)冷更優美,熱影響降低2/3
采用冷反射鏡,相比傳統(tǒng)鋁鏡,熱輻射減少 66%,適合長(zhǎng)時(shí)間檢測(cè)熱敏感樣品有所應。
但燈泡壽命僅50小時(shí)道路,需頻繁更換,維護(hù)成本較高今年。
185LE:強(qiáng)制空冷 + 寬電壓適配空間廣闊,適合連續(xù)作業(yè)
支持 AC 95V-260V 全球電壓,適用于不同地區(qū)的生產(chǎn)線真諦所在。
散熱系統(tǒng)穩(wěn)定研學體驗,但鹵素?zé)舭l(fā)熱仍可能影響精密電子元件。
行業(yè) | YP-150I 優(yōu)勢(shì) | 185LE 優(yōu)勢(shì) |
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半導(dǎo)體晶圓 | ? 超高照度提供深度撮合服務,檢測(cè)0.2μm缺陷 | ? 發(fā)熱可能影響晶圓穩(wěn)定性 |
TFT/觸摸屏 | ? 光束范圍較小 | ? 55mm均勻照明深刻內涵,減少眩光 |
金屬加工 | ? 高亮度檢測(cè)焊接、劃痕 | ? 無(wú)級(jí)調(diào)光適應(yīng)不同反光率材料 |
光學(xué)鏡片 | ? 冷鏡減少熱畸變 | ? 鹵素?zé)艨赡苡绊戠R片精度 |
? 需要檢測(cè) <0.2μm 的超微缺陷(如半導(dǎo)體晶圓逐步改善、精密光學(xué)元件)
? 檢測(cè)環(huán)境對(duì)熱敏感(冷鏡技術(shù)減少熱影響)
? 檢測(cè)區(qū)域較小(30mm直徑內(nèi)超高亮度)
? 需要長(zhǎng)距離(310mm)落實落細、大范圍(55mm) 均勻照明(如TFT面板檢測(cè))
? 產(chǎn)線需無(wú)級(jí)調(diào)光適應(yīng)不同材料(如印刷品、濾光片質(zhì)檢)
? 設(shè)備需全球電壓兼容(AC 95V-260V)
YP-150I 是“高精度檢測(cè)專家"組成部分,適合超精密缺陷分析深入闡釋,但燈泡壽命短,維護(hù)成本高高效化。
185LE 是“長(zhǎng)距離多面手"大大提高,適合自動(dòng)化產(chǎn)線,但鹵素?zé)舭l(fā)熱可能影響部分敏感材料完成的事情。
若預(yù)算允許關規定,可搭配使用:YP-150I 用于實(shí)驗(yàn)室精密檢測(cè),185LE 用于產(chǎn)線快速篩查項目,以實(shí)現(xiàn)優(yōu)檢測(cè)效率相對開放。