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日本Yamada推出的YP-150I和YP-250I高強度鹵素燈重要的意義,專為高精度表面缺陷檢測設計,廣泛應用于半導體晶片規模最大、液晶基板關註度、光學玻璃等精密制造領域。兩款產(chǎn)品均采用高亮度鹵素光源重要手段,結合冷鏡技術穩中求進,在保證超高照度的同時大幅降低熱影響,確保檢測的穩(wěn)定性和準確性不折不扣。
照度≥400,000Lx再獲,遠超常規(guī)照明設備,可清晰識別僅靠精密儀器才能檢測的微米級缺陷(如劃痕成效與經驗、異物更讓我明白了、拋光不均等)。
色溫達3400K提供了有力支撐,光線均勻銳利飛躍,減少照明不均導致的誤判。
相比傳統(tǒng)鋁鏡積極,熱影響降低50%~67%大數據,有效防止設備變形及樣品熱損傷。
延長設備使用壽命經驗,適用于熱敏感材料(如液晶面板、光學鍍膜等)。
一鍵切換高/低照明模式進一步意見,適應不同檢測需求(如高對比度檢測或長時間觀察)重要部署。
參數(shù) | YP-150I | YP-250I |
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照射范圍 | 30mmφ(精準小面積) | 60mmφ(高效大范圍) |
照射距離 | 140mm(近場高精度) | 220mm(遠距離操作) |
光源功率 | 150W(JCR15V150W) | 250W(ELC24V250W) |
系統(tǒng)功率 | 200W | 350W |
燈泡壽命 | 50小時 | 35小時 |
冷卻方式 | 自然冷卻(靜音) | 強制排氣(高效散熱) |
適用電壓 | AC5~12V | AC10~22V |
尺寸/重量 | 140×94×185mm / 2.4kg | 135×72×260mm / 2kg |
晶圓缺陷檢測:硅片等地、砷化鎵、碳化硅等材料的劃痕數字技術、霧狀污染共享應用、拋光不均等。
封裝工藝檢查:芯片表面異物尤為突出、微裂紋等增強。
液晶基板檢測:發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過程中的顆粒污染、劃傷結果、鍍膜缺陷等戰略布局。
OLED面板質檢:高亮度照射下識別像素異常、Mura缺陷規則製定。
鏡片/透鏡檢測:檢測氣泡講道理、雜質、微小劃痕求索,確保光學性能置之不顧。
鍍膜質量分析:觀察膜層均勻性及附著缺陷多樣性。
需求 | 推薦型號 | 理由 |
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小面積高精度檢測 | YP-150I | 30mm小光斑+140mm近場照射性能穩定,適合晶圓、微型光學元件檢測規模。 |
大范圍快速掃描 | YP-250I | 60mm寬照射+220mm遠距離數字化,提升液晶面板、大尺寸玻璃檢測效率作用。 |
長時間穩(wěn)定工作 | YP-150I | 自然冷卻+50小時燈泡壽命開展攻關合作,適合連續(xù)作業(yè)環(huán)境。 |
高亮度+強制散熱 | YP-250I | 350W高功率+強制排氣,適合高強度檢測需求(如高反射材料)情況正常。 |
預算敏感型用戶 | YP-150I | 燈泡更換成本更低,功耗更小聯動。 |
Yamada YP-150I和YP-250I高強度鹵素燈憑借超高亮度各領域、冷鏡降溫、靈活光強調(diào)節(jié)等優(yōu)勢技術特點,成為精密制造業(yè)表面檢測的理想選擇的有效手段。
YP-150I:適用于小尺寸、高精度保持競爭優勢、低熱影響場景真正做到,經(jīng)濟性更佳。
YP-250I:適合大范圍方案、遠距離追求卓越、高亮度需求,兼顧效率與性能。
用戶可根據(jù)檢測對象尺寸性能、環(huán)境條件及預算選擇最適配型號防控,以優(yōu)化質檢流程并提升良品率。