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可同時(shí)檢測(cè)反射率和透射率的薄膜測(cè)厚技術(shù)
F10-RT 是一款緊湊型桌面測(cè)量系統(tǒng)服務機製,集成了測(cè)量單元和測(cè)量臺(tái)??赏瑫r(shí)測(cè)量反射率和透射率認為,輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)國際要求。
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接紮實,無(wú)需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)即可進(jìn)行復(fù)雜設(shè)置,而且設(shè)置非常簡(jiǎn)單新趨勢。
緊湊型桌面測(cè)量系統(tǒng)可能性更大,集成測(cè)量單元和測(cè)量臺(tái)
光譜范圍廣,可選擇多種光源
可同時(shí)測(cè)量反射率和透射率新體系,并具有膜厚使命責任、折射率和消光系數(shù)分析功能,
同時(shí)用標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)相機(jī)記錄測(cè)量位置搖籃。
放個(gè)樣品就好了持續創新。無(wú)需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng),設(shè)置非常簡(jiǎn)單
平板 | 聚酰亞胺使用、ITO分析、抗蝕劑、氧化膜不難發現、增透膜強化意識、PET、玻璃基板上的各種光學(xué)薄膜 |
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光學(xué)鍍膜 | 玻璃深入、眼鏡合理需求、鏡片等的硬涂層。 |
薄膜太陽(yáng)能電池 | CdTe基本情況、CIGS先進水平、非晶硅等 |
用于平板的透明電極ITO的膜厚和折射率的測(cè)量實(shí)例
同時(shí)測(cè)量反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件即時(shí)分析薄膜厚度、折射率等共享。