結合各種識別工具，測量分析各類顆粒物

通過讀取SEM紮實做、TEM等拍攝的圖像并識別目標顆粒足了準備，自動計算粒徑分布并將顆粒形狀數(shù)字化。
通過使用手寫板的手動分析工具支撐作用，可以輕松識別形狀復雜的顆粒和團聚顆粒穩步前行。

Mac-View Version.5 中的新功能和改進

?在粒子獲取模式中添加了“針狀"

Mac-View Version.5 的特點

■凝集粒子的一次粒徑分析

現(xiàn)在可以評估聚集顆粒的初級粒徑，這在以前是很困難的著力提升。

■納米粒子的評價

只要尺度信息可用指導，無論顆粒大小如何，都可以進行分析良好。

■多邊分析評估

可以自動測量粒度分布并分析顆粒形狀（圓形度雙重提升、長徑比等）。此外倍增效應，可以獲得豐富的數(shù)據(jù)，從而可以評估聚集顆粒的初級顆粒戰略布局。

■操作方便

它不需要任何特殊知識重要意義，并且易于操作，因此不需要操作人員任何技能水平講道理。

■無需昂貴的資金投入

只要您準備好圖像（jpeg引領、位圖）表現明顯更佳，在 PC 上安裝軟件后即可立即使用。

應用實例

納米粒子優化服務策略、凝聚粒子技術先進、顆粒、燒結體截面技術節能、乳液粒徑等

支持軟件

■綜合粉末分析軟件Mac-PIAS

Mac-PIAS是綜合性粉末分析軟件的新維度提高，可以集中管理和分析使用各種方法測量的“粒度分布數(shù)據(jù)"。

■篩分試驗數(shù)據(jù)分析軟件Macmesh

Macmesh 是一種工具延伸，可以消除數(shù)據(jù)密集型篩分測試中的人為錯誤有很大提升空間，并提高測試效率。