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適用于檢查光學(xué)薄膜、片材落到實處、觸摸屏等表面劃痕有效性、異物高質量發展、缺陷設(shè)備介紹

發(fā)布時間:2024-11-13 點擊量:539

適用于檢查光學(xué)薄膜、片材充分發揮、觸摸屏等表面劃痕共享、異物、缺陷設(shè)備介紹

光學(xué)分辨率1.8μm/速度檢測全面展示!
用于基材和金屬表面的缺陷檢查姿勢!

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概述

這是使用高分辨率相機和高精度XY平臺的二維檢查裝置。
適用于檢查光學(xué)薄膜服務、片材重要平臺、觸摸屏等表面劃痕、異物選擇適用、缺陷生動。
光學(xué)分辨率為1.8μm,可實現(xiàn)高清檢查核心技術。
它還可以處理尺寸測量綠色化,還可以檢查二維沖壓產(chǎn)品設計。

特征

  • 自動保存檢測數(shù)據(jù)和圖像

  • 攝像頭像素數(shù):900萬像素

  • 高光學(xué)分辨率(1.8μm)讓您可以清晰地看到精細的檢查點。

  • 非常適合檢查觸摸屏的外圍電極和印刷電路板上的精細布線是否有斷線和短路至關重要。


目的

用于檢查觸摸面板主動性、異物等缺陷!

  • 觸控面板周邊電極缺陷檢測

  • 板材表面劃痕及異物檢查

  • 電路板缺陷檢查

系統(tǒng)配置


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