半導(dǎo)體晶片檢查中的使用示例

檢查姿勢(shì)正確

照亮廣闊的區(qū)域

更短的工作時(shí)間=更低的公用事業(yè)成本

• 照明范圍廣（最大可達(dá)φ400）的方法，因此無需移動(dòng)照明設(shè)備來匹配物體的尺寸。

提高質(zhì)量并減少投訴

• 由于冷卻機(jī)構(gòu)采用散熱器機(jī)構(gòu)方法，因此無需擔(dān)心冷卻風(fēng)扇對(duì)潔凈室造成污染生產創效。

縮短工作時(shí)間、降低勞動(dòng)力成本進行探討、應(yīng)對(duì)人口老齡化

• 如果僅照亮身體的一部分緊密協作，則患者在觀察時(shí)必須改變其位置，這會(huì)導(dǎo)致長(zhǎng)時(shí)間檢查時(shí)的疲勞管理。

• 如果照射面積不夠，則需要觀察技術(shù)，但如果照射整個(gè)表面切實把製度，則不需要任何技能優化上下，任何人都可以以同樣的方式觀察。

實(shí)施后效果測(cè)量結(jié)果

檢查時(shí)間減少25%再獲！返工和不良品的響應(yīng)時(shí)間已減少到幾乎為0穩定性！

規(guī)格

L-FRONT規(guī)格

特性數(shù)據(jù)

L-FRONT特性數(shù)據(jù)