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表面附著異物可視化技術(shù)
顆粒可視化技術(shù)可用于高靈敏度地檢測(cè)光滑表面上的顆粒落實落細。此外意見征詢,通過(guò)可視化顆粒成分產(chǎn)生的熒光,可以日常管理表面異物和污垢深入闡釋。
高靈敏度粒子可視化技術(shù)捕捉移動(dòng)粒子的散射光集聚。同樣的原理可用于高靈敏度地檢測(cè)表面異物或移動(dòng)產(chǎn)品的微弱散射光。使用激光只能應(yīng)用于光滑的產(chǎn)品大大提高,但可以通過(guò)可視化進(jìn)行檢測(cè)新的動力,例如在施加張力的地方,例如薄膜中調整推進。
使用散射光感測(cè)表面異物
附著在表面的異物或污垢可能會(huì)因其成分而反射熒光。為了使熒光顏色變得清晰發展契機,需要想辦法照射光線穩定,但如果使用特殊的濾光片來(lái)濾除散射光,表面的異物就會(huì)變得非常豐富多彩講故事,并且很容易看到增產。通過(guò)這種方法,無(wú)論表面的光滑程度如何系統,只要有光到達(dá)的方法,就可以進(jìn)行可視化積極影響。“D Light"可免費(fèi)出借(約2天)生產創效。請(qǐng)借此機(jī)會(huì)嘗試一下進一步提升。
利用熒光識(shí)別異物和污垢
“D Light"是一種可以更輕松地從視覺(jué)上看到異物和表面污垢的熒光顏色的工具。
“D Scope"是一種可以捕捉最微弱熒光的工具緊密協作,可以分析細(xì)小顆粒的各種信息并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)提供有力支撐。
平行眼 F是一種相對(duì)容易設(shè)置在您想要可視化的表面上的光源。
Parallel Eye H是可視化寬闊、光滑的產(chǎn)品表面的最佳光源越來越重要。
Parallel Eye D是可視化不平坦表面或使熒光更加突出的最佳光源。
具有粒子檢測(cè)專用的靈敏度和功能的超高靈敏度相機(jī)就是專用超高靈敏度相機(jī)“粒子眼"優化上下。
要在 PC 上實(shí)時(shí)處理和記錄圖像改革創新,請(qǐng)使用圖像處理包“ParticleEye"
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