圖案化晶圓檢測設(shè)備包括SEM檢測設(shè)備改革創新、明場檢測設(shè)備和暗場檢測設(shè)備最新。 它們各有各的特點，但基本的缺陷檢測原理是相同的自行開發。
半導(dǎo)體晶圓與具有相同圖案的電子設(shè)備并排制造模樣。
隨機(jī)缺陷通常是由異物等碎屑引起的，顧名思義應用擴展，它們發(fā)生在晶圓上未定的（隨機(jī)）位置過程中。 在特定位置重復(fù)發(fā)生的概率被認(rèn)為非常低。 因此建立和完善，缺陷檢測設(shè)備通過比較相鄰芯片（也稱為芯片）的圖案圖像并取差異來檢測缺陷特征更加明顯。

圖5-1說明了圖案化晶圓上的缺陷檢測原理。
電子束和光沿芯片陣列捕獲晶圓上圖案的圖像啟用。 為了使缺陷檢查裝置檢測缺陷，請將要檢查的模具的圖像（1）與相鄰模具（2）的圖像進(jìn)行比較。
當(dāng)圖像經(jīng)過數(shù)字處理和減去時活動上，如果根本沒有缺陷達到，則減法為“0"，未檢測到缺陷大型。 另一方面的可能性，如圖所示，在減去（2）中的模具圖像有缺陷后不可缺少，缺陷的圖像保留在差分圖像（3）中系列。 然后，缺陷檢查器檢測到缺陷服務為一體，并將其與其位置坐標(biāo)進(jìn)行登記方案。

無圖案晶圓檢測系統(tǒng)設(shè)計用于晶圓制造商的晶圓出貨檢驗特點、設(shè)備制造商的晶圓驗收檢驗以及設(shè)備清潔度監(jiān)測。它用于設(shè)備狀態(tài)檢查等統籌發展。 設(shè)備狀況檢查還用于設(shè)備制造商的運(yùn)輸檢查和設(shè)備制造商在交付設(shè)備時的驗收檢查相結合。
將用于清潔監(jiān)測的鏡面晶片裝入制造設(shè)備，在設(shè)備中移動載物臺后影響，監(jiān)測異物程度并檢查設(shè)備的清潔度相關性。

圖5-2顯示了無圖案晶圓的缺陷檢測原理。
在沒有圖案的情況下技術先進，直接檢測缺陷示範，無需任何特定的圖像比較。
激光束照射在旋轉(zhuǎn)晶圓上并沿徑向移動（相對）以照射晶片的整個表面提高。

當(dāng)晶圓旋轉(zhuǎn)并且激光束擊中異物/缺陷時發展基礎，光被散射，散射光被檢測器檢測到有很大提升空間。 這將檢測異物/缺陷要求。 根據(jù)晶圓的旋轉(zhuǎn)角度和激光束的徑向位置，確定并記錄異物/缺陷的坐標(biāo)位置認為。
鏡面晶圓上的缺陷不僅是異物運行好，還有COP等晶體缺陷。

產(chǎn)品介紹

介紹我們的缺陷審查SEM和晶圓檢測設(shè)備陣容創造。