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熱電特性評(píng)價(jià)裝置 ZEM-3系列的測(cè)量原理分析
這是一種同時(shí)測(cè)量熱電材料的熱電率(塞貝克系數(shù))和電導(dǎo)率的裝置。我們準(zhǔn)備了溫度范圍為-80°C至1000°C的測(cè)量?jī)x器去突破,操作簡(jiǎn)單品質。
半導(dǎo)體提供了遵循,陶瓷,金屬等廣泛材料的熱電特性評(píng)價(jià)能運用。
樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間利用好。通過(guò)下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度,同時(shí)將樣品加熱并保持在規(guī)定的溫度講理論。塞貝克系數(shù)的測(cè)量是通過(guò)測(cè)量壓在樣品側(cè)面的熱電偶上的上部和下部T1研學體驗,T2與熱電偶一側(cè)的同一股線之間的熱電動(dòng)勢(shì)dE來(lái)確定的。
電阻測(cè)量采用直流四端法提供深度撮合服務,通過(guò)在樣品兩端施加恒定電流I深刻內涵,測(cè)量熱電偶同一元件線之間的電壓降dV,并去除引線之間的熱電動(dòng)勢(shì)來(lái)確定最為突出。
采用溫度可控性優(yōu)異的紅外線金像加熱爐和溫差控制用微加熱器
測(cè)量由計(jì)算機(jī)控制逐步改善,可以在規(guī)定溫度下對(duì)各溫差進(jìn)行測(cè)量,也可以消除暗電動(dòng)勢(shì)等自動(dòng)測(cè)量
標(biāo)配自動(dòng)歐姆接觸檢查(V-I圖)
可選附件可用于測(cè)量薄膜
可定制為高電阻