材料檢測裝置 M-CAP V2 系列的特征及功能介紹

材料檢查裝置M-CAP V2是充分利用新的圖像處理技術(shù)開發(fā)的平面專用外觀檢查裝置推進一步。在保持與以前相同的易用性的同時，實現(xiàn)了更高的速度和更高的分辨率開展。除了檢測針孔帶動擴大、異物污染和污垢附著等小缺陷外，它不會忽略薄膜材料不均勻解決方案、條紋和劃痕等難以區(qū)分的缺陷不負眾望。

特征

• 無論安裝位置如何，都可以靈活布局
  集成單元主體的控制面板已被取消交流研討，配置由每個功能的組件組成推動並實現。
  這增加了安裝的靈活性，并有助于有效利用工廠空間結構重塑。

• 追求用戶友好的易用性
  采用液晶顯示器和易于使用的交互系統(tǒng)推廣開來，操作變得簡單。

• 通過更新成像系統(tǒng)實現(xiàn)高速和高分辨率
  采用新開發(fā)的數(shù)碼相機貢獻法治，在高速傳輸過程中實現(xiàn)清晰的圖像和微小缺陷的檢測密度增加。

• 標準配備
  專有 LED 照明 使用具有高亮度和高顯色性的專有 LED 照明。
  還可以剔除因特殊結(jié)構(gòu)而難以判斷的魚眼（凝膠）和黑點相對較高。

• 即使放大
  了基于 AI 的超分辨率技術(shù)信息化，也可以清楚地顯示缺陷圖像，即使在放大時也可以防止缺陷圖像變得顆粒狀創新內容。

• 通過增強的數(shù)據(jù)管理進行有效的質(zhì)量控制
  實時匯總每行和距離的缺陷數(shù)量全方位，數(shù)據(jù)可以作為 PDF 文件輸出。
  它還支持網(wǎng)絡數(shù)據(jù)管理功能等實踐者，有助于更有效的質(zhì)量控制和提高生產(chǎn)力管理。

• 檢查功能的顯著擴展
  最多可同時檢查 5 個電路，極大地提高了檢查性能豐富。
  線性缺陷檢測電路增強了對皺紋、薄膜裂紋、毛發(fā)善於監督、絨毛等的檢測大局。
  此外，光缺陷檢測電路增強了對大面積光斑和不均勻光斑的檢測數據。

應用領域

• 應用
  薄膜效率和安、片材、無紡布邁出了重要的一步、金屬產能提升、各種涂膜等。

• 適配機
  貼膜、制片機等