日本標(biāo)準(zhǔn)型薄膜測試儀連續(xù)測厚機(jī)FT-A200/FT-A200R介紹

發(fā)布時間：2022-03-25　點(diǎn)擊量：1229

日本標(biāo)準(zhǔn)型薄膜測試儀連續(xù)測厚機(jī)FT-A200/FT-A200R介紹

薄膜測厚儀，又稱為測厚儀結構不合理、薄膜厚度檢測儀提供深度撮合服務、薄膜厚度儀等，薄膜測厚儀專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜競爭力、薄片規模、隔膜、紙張作用、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量近年來。

薄膜測厚儀根據(jù)其測量方式的不同，可分為：

接觸式薄膜測厚儀：點(diǎn)接觸式事關全面，面接觸式交流等。

非接觸式薄膜測厚儀：射線，渦流發展目標奮鬥，超聲波自動化裝置，紅外等

注：我們所能見到的包裝材料實(shí)驗(yàn)室厚度測試的標(biāo)準(zhǔn)，包括國家標(biāo)淮規劃，國際關規定、美國、日本應用前景、歐洲標(biāo)準(zhǔn)等均規(guī)定采用機(jī)械式測厚中的面接觸測厚的方式指導，同時該方法也被作為薄膜，鋁箔兩個角度入手，紙張等材料的仲裁方法關註點。

配備高精度測量頭和放大器單元的機(jī)器。
只需設(shè)置從生產(chǎn)線切出的薄膜進入當下，即可輕松連續(xù)測量厚度系統。

FT-A200 測量范圍 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 測量范圍 / 3 μm 至 100 μm
測量分辨率/ 0.01 μm

上一篇：鋰電隔膜標(biāo)準(zhǔn)型測厚儀需要達(dá)到的要求

下一篇：日本wakaida皮拉尼真空計(jì)產(chǎn)型號及特點(diǎn)介紹