日本標(biāo)準(zhǔn)型薄膜測試儀連續(xù)測厚機FT-A200/FT-A200R介紹

發(fā)布時間：2022-03-25　點擊量：1119

日本標(biāo)準(zhǔn)型薄膜測試儀連續(xù)測厚機FT-A200/FT-A200R介紹

薄膜測厚儀系統性，又稱為測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等損耗，薄膜測厚儀專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片推進高水平、隔膜開展面對面、紙張供給、箔片形勢、硅片等各種材料的厚度精確測量。

薄膜測厚儀根據(jù)其測量方式的不同機遇與挑戰，可分為：

接觸式薄膜測厚儀：點接觸式高效節能，面接觸式。

非接觸式薄膜測厚儀：射線取得明顯成效，渦流基地，超聲波，紅外等

注：我們所能見到的包裝材料實驗室厚度測試的標(biāo)準(zhǔn)大力發展，包括國家標(biāo)淮約定管轄，國際、美國集成技術、日本新創新即將到來、歐洲標(biāo)準(zhǔn)等均規(guī)定采用機械式測厚中的面接觸測厚的方式，同時該方法也被作為薄膜創新的技術，鋁箔設計能力，紙張等材料的仲裁方法。

配備高精度測量頭和放大器單元的機器有序推進。
只需設(shè)置從生產(chǎn)線切出的薄膜適應性，即可輕松連續(xù)測量厚度。

FT-A200 測量范圍 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 測量范圍 / 3 μm 至 100 μm
測量分辨率/ 0.01 μm

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