原因是測量點只有一個用的舒心,很難清楚地識別位置。
另外綠色化發展,我想避免接觸測量去創新,如果可能的話,這可能會導(dǎo)致劃痕應用創新。尤其是半導(dǎo)體曝光機的大口徑鏡頭體系,
玻璃材質(zhì)是有原因的,但要求光學(xué)性能最高和諧共生,
壁厚公差嚴(yán)格提高。
測量的另一個原因是為了
響應(yīng)在鏡片加工過程中(特別是在初始階段)測量壁厚的要求。如您所知用上了,被稱為難玻璃
材料的軟玻璃材料結構,由于晶體取向的問題適應性強,具有被快速刮掉的特性。此外競爭力所在,材料成本
高能力建設,我們希望減少加工錯誤。此外先進的解決方案,使用其他公司的測量光通過樣品正面和背面的
反射光測量壁厚的設(shè)備無法進(jìn)行此測量基礎。
* 由于測量粗糙表面時物體之間的距離會有輕微誤差,
建議使用四邊形位移計或在表面涂油研究進展。