日本yamabun新款適用于軟薄膜和薄膜的測厚儀TOF-C2

模型	TOF-C2 * TOF-C 的后續(xù)型號
測量方法	非接觸式/電容式
測量對象	薄膜表現明顯更佳、粘性保護膜、易附著灰塵的薄膜
測量原理	電容式

產(chǎn)品特點

• 高測量分辨率

• 由于是非接觸型優化服務策略，因此非常適合接觸型難以測量的薄膜技術先進。

• 即使表面狀況粗糙，也可以進行測量規模。

• 基重測量

• 操作簡單（具有自動介電常數(shù)設(shè)置功能）

產(chǎn)品規(guī)格