用于半導(dǎo)體硅片厚度檢測(cè)設(shè)備-非接觸式測(cè)厚儀 OZUMA22

<使用>

半導(dǎo)體用晶圓（各種材料） 硅Si.GaAs 砷化鎵等更加廣闊，玻璃系統性、金屬合作、化合物等的高精度非接觸式測(cè)厚（非接觸式測(cè)厚）

<特點(diǎn)>

1. 1. 通過空氣背壓法可以進(jìn)行非接觸式測(cè)厚（非接觸式測(cè)厚），不會(huì)造成劃痕和污染等損壞
損耗。不依賴于薄膜和顏色光澤等材料勇探新路，可以輕松進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測(cè)量（非接觸式厚度測(cè)量）
。在潮濕時(shí)可以進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測(cè)量（非接觸式厚度測(cè)量）
形式。即使是鏡面透明或半透明擴大，也可以毫無問題地進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測(cè)量（非接觸式厚度測(cè)量）
。由于采用上下測(cè)量噴嘴進(jìn)行測(cè)量傳遞，因此
　 　可以準(zhǔn)確測(cè)量“厚度”讓人糾結，而不受被測(cè)物體“滑行”引起的抬升的影響。
　嵤虑笫?。?ldquo;雪橇”測(cè)量也可以作為選項(xiàng)（* 1））
6. 由于操作簡(jiǎn)單自動化方案，因此可以非常輕松地進(jìn)行測(cè)量和校準(zhǔn)（* 2）。

<測(cè)量原理>

精確控制上結構、下測(cè)量噴嘴的背壓空間廣闊，噴嘴定位使噴嘴與被測(cè)物體之間的間隙恒定，并與預(yù)先用基準(zhǔn)規(guī)校準(zhǔn)的值進(jìn)行比較計(jì)算處理對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行測(cè)量操作效果，可精確確定厚度。

測(cè)量原理圖

<性能>

　　分辨率 0.1 μm
　　重復(fù)精度 10 次重復(fù) 連續(xù)測(cè)量時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)偏差 (1σ) 0.3 μm 或更小
　　測(cè)量范圍 max. 10mm (* 3)
　　供能電源 AC100V 50 / 60Hz 3A
　　　　　　　　　　　 潔凈空氣 0.4MPa 20NL/min. (*4)

<基本配置>
標(biāo)準(zhǔn)的非接觸式測(cè)厚儀（非接觸式測(cè)厚儀）是一組以下設(shè)備。
(1) 非接觸式測(cè)厚儀（非接觸式測(cè)厚儀）主體 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 1 套
②測(cè)量臺(tái)（安裝臺(tái)） ? ? ? ? 從附接“表型”的選擇·
········1組③控制箱（分離型）············1個(gè)
④手操作開關(guān)BOX········ · · · · · · 1套

⑤ 顯示器（7"彩色液晶觸摸屏）或用于測(cè)量控制的個(gè)人電腦???????????1套
⑥連接電纜??????????????????? ? ? 1 套
⑦ 校準(zhǔn)規(guī)（規(guī)定厚度） ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 1 個(gè)
⑧ 測(cè)量控制的標(biāo)準(zhǔn)軟件 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?? ? ? ? ? ? ? ? ?
除上述以外服務水平，還可以根據(jù)用途從“Option list”中選擇可選產(chǎn)品線上線下。　

（筆記）

* 1 根據(jù)翹曲的程度和工件的剛性能力建設，可能無法測(cè)量翹曲　
　　　　知識和技能。詳情請(qǐng)聯(lián)系我們。
* 2 校準(zhǔn)時(shí)顯著，也可以使用市售的塊規(guī)深入開展。
* 3 測(cè)量范圍最大標(biāo)準(zhǔn)機(jī)。雖然是0.10mm需求，但也可以選擇10mm以上
　　　?。ǖ牵瑴y(cè)量工作范圍為10mm）
*4 清潔空氣從測(cè)量噴嘴直接吹到被測(cè)物體上各方面，所以要注意空氣質(zhì)量堅定不移。
　　 　測(cè)量壓力為15至20 KPa。