日本NCC可實現(xiàn)零灰塵和異物缺陷的目視檢查燈ZEUS

缺陷的原因很容易被隱藏。

為什么灰塵和異物引起的缺陷不能減少應用提升？這是因為10μm至100μm的灰塵特點，污垢和稱為“粗顆粒”的異物會受到重力影響，并積聚在制造場所的每個部位（墻壁統籌發展，地板品質，工作臺積極回應，產(chǎn)品表面）。

但是在大多數(shù)情況下深化涉外，人眼看不見它全會精神。

因此，這是一種“可視化技術”又進了一步，它利用光的直線性使不可見的粗顆林悄芑?？梢姡⑶以谧R別發(fā)生位置拓展基地，管理站點和提高站點意識方面起著重要作用綜合措施。

 ZEUS可以說是極zhi的直線度，擁有迄今為止NCC一直堅持使用的可視化燈的所有技術和知識處理，并為您始終希望將其保持在附近的燈給未來的制造質量帶來新的光彩攜手共進。并始終使用。

什么是追求粗顆磷匀粭l件？梢暬?ldquo;下一代通用燈”擴大公共數據？

使用反射鏡的傳統(tǒng)聚光方法由于光線不均勻而缺乏可見性，但是新構思的多透鏡方法可以*地提高光的直線度不合理波動，并可以清除幾米外的灰塵和異物建言直達。另一個主要特征是可以從燈的前面看到漂浮的灰塵和氣流。這是適用于可視化產(chǎn)品和設備（包括環(huán)境）中的粗顆粒的下一代模型的誕生助力各業。

特殊長度

• 通過照射均勻的光可以有效地使用
• 可根據(jù)應用使用的可拆卸綠色鏡片
• 輕松查看高處和深處的設備
• 非常適合更換HID燈
• 無需更換電池即可用于長期檢查

用法

• 檢查制造設備的清潔度
• 浮塵可視化
• 通過可視化改革和提高現(xiàn)場意識
• 在制造前后檢查清潔狀況
• 識別粉塵產(chǎn)生源（現(xiàn)場調查）
• 可視化附著在高處和設備背面的灰塵

• 技術指標