日本NCC可實(shí)現(xiàn)零灰塵和異物缺陷的目視檢查燈ZEUS

缺陷的原因很容易被隱藏。

為什么灰塵和異物引起的缺陷不能減少服務？這是因?yàn)?0μm至100μm的灰塵實現，污垢和稱為“粗顆粒”的異物會(huì)受到重力影響，并積聚在制造場(chǎng)所的每個(gè)部位（墻壁舉行，地板，工作臺(tái)，產(chǎn)品表面）活動上。

但是在大多數(shù)情況下達到，人眼看不見它。

因此大型，這是一種“可視化技術(shù)”的可能性，它利用光的直線性使不可見的粗顆粒可見不可缺少，并且在識(shí)別發(fā)生位置系列，管理站點(diǎn)和提高站點(diǎn)意識(shí)方面起著重要作用。

 ZEUS可以說是極zhi的直線度服務為一體，擁有迄今為止NCC一直堅(jiān)持使用的可視化燈的所有技術(shù)和知識(shí)方案，并為您始終希望將其保持在附近的燈給未來的制造質(zhì)量帶來新的光彩。并始終使用相互配合。

什么是追求粗顆两y籌發展？梢暬?ldquo;下一代通用燈”？

使用反射鏡的傳統(tǒng)聚光方法由于光線不均勻而缺乏可見性積極回應，但是新構(gòu)思的多透鏡方法可以*地提高光的直線度影響，并可以清除幾米外的灰塵和異物。另一個(gè)主要特征是可以從燈的前面看到漂浮的灰塵和氣流競爭力。這是適用于可視化產(chǎn)品和設(shè)備（包括環(huán)境）中的粗顆粒的下一代模型的誕生製高點項目。

特殊長(zhǎng)度

• 通過照射均勻的光可以有效地使用
• 可根據(jù)應(yīng)用使用的可拆卸綠色鏡片
• 輕松查看高處和深處的設(shè)備
• 非常適合更換HID燈
• 無需更換電池即可用于長(zhǎng)期檢查

用法

• 檢查制造設(shè)備的清潔度
• 浮塵可視化
• 通過可視化改革和提高現(xiàn)場(chǎng)意識(shí)
• 在制造前后檢查清潔狀況
• 識(shí)別粉塵產(chǎn)生源（現(xiàn)場(chǎng)調(diào)查）
• 可視化附著在高處和設(shè)備背面的灰塵

• 技術(shù)指標(biāo)