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便攜式厚度測(cè)試儀-日本電測(cè)densoku便攜式膜厚計(jì)QNIx系列

發(fā)布時(shí)間:2020-08-14 點(diǎn)擊量:1321

日本電測(cè)densoku便攜式膜厚計(jì)QNIx系列

一種便攜式膜厚計(jì)不斷創新,可以容易地提高麻煩的膜厚測(cè)量的生產(chǎn)效率。

QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測(cè)量膜厚體驗區,而無需攜帶厚膜厚計(jì)去突破。
無線測(cè)量無需電纜。它有助于將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€(gè)人計(jì)算機(jī)探索,也有助于防止測(cè)量過程中掉落事故。

QNIx系列功能

無需校準(zhǔn)薄膜即可進(jìn)行精que的薄膜厚度測(cè)量

提供出廠時(shí)輸入的16點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)全面協議。這樣就無需進(jìn)行麻煩的薄膜打樣工作重要作用,并且可以進(jìn)行精que的薄膜厚度測(cè)量。

膜厚測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)

在傳統(tǒng)的測(cè)量儀器中講實踐,測(cè)量儀器通過電纜連接到個(gè)人計(jì)算機(jī)以傳輸測(cè)量數(shù)據(jù)增幅最大。QNIx系列使用“無線加mi狗”,只需將其插入U(xiǎn)SB端口即可進(jìn)行傳輸最為顯著。您可以更快滿意度,更輕松地瀏覽測(cè)量數(shù)據(jù)十分落實。

超輕便的無線測(cè)量儀

探頭測(cè)得的數(shù)據(jù)被無線發(fā)送到主機(jī)。也減少了被電纜夾住或像常規(guī)產(chǎn)品一樣妨礙并導(dǎo)致墜落事故的風(fēng)險(xiǎn)逐步顯現。此外作用,該探頭重30克,非常輕巧近年來,因此您無需攜帶笨重的儀器銘記囑托。

一種不易折斷且不會(huì)在測(cè)量對(duì)象上留下痕跡的探針。

QNIx系列探頭被增強(qiáng)塑料包圍交流等,耐用性提高了30%製造業。即使在極少數(shù)的故障情況下,拆卸和維修也很容易自動化裝置,因此可以縮短維修時(shí)間狀態。此外,它配備了紅寶石芯片關規定,因此您可以安全地測(cè)量樣品而不會(huì)損壞它更多的合作機會。

QNIx系列比較規(guī)格表

 QNIx 8500QNIx
4500/4200
QNIx 7500QNIx Carcheck系統(tǒng)QNIx方便
可測(cè)量的電影[F]黑色金屬上的非磁性涂層
[N]黑色金屬上的非導(dǎo)電涂層
[FN]黑色/黑色材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層
[FN]黑色金屬和有色金屬材料上的非磁性和非導(dǎo)電涂層[FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導(dǎo)電膜厚度
材料識(shí)別黑色金屬和有色金屬的
自動(dòng)識(shí)別和交換
黑色金屬和有色金屬的
自動(dòng)識(shí)別和交換
用戶的轉(zhuǎn)換黑色金屬和有色金屬的
自動(dòng)識(shí)別和交換
鐵/有色金屬自動(dòng)識(shí)別模式轉(zhuǎn)換
測(cè)量原理[F]磁通量(霍爾效應(yīng))
[N]渦流
測(cè)量范圍0至2,000μm
(可選:5,000μm)
0至3,000μm0至2,000μm
(可選:5,000μm)
0?5,000微米0?500微米
gao
分辨率
0.1μm穩定發展,1μm
[M] 0.01μm
1微米0.1微米0.1微米,1微米5微米
配置格式0點(diǎn)校正
用戶校準(zhǔn):1
[M] 100
0點(diǎn)校正0點(diǎn)校正沒有校準(zhǔn)功能沒有校準(zhǔn)功能
準(zhǔn)確性±(1μm+ 2%)
±3.5%
(2mm以上)
[T] ±
(0.3μm+ 2%)
±(2μm+ 3%)±(1μm+ 3%)±(1μm+ 2%)
±3.5%
(2mm以上)
±(10微米+ 5%)
測(cè)量速度1,500ms
(約40次/分鐘)
[T] 920ms
(約65次/分鐘)
[R] 1,600ms
(約37次/分鐘)
600ms
(約70次/分鐘)
1,300ms
(約46次/分鐘)
1,500ms
(約40次/分鐘)
600ms
(約100次/分鐘)

便攜式薄膜測(cè)厚儀的型號(hào)代碼指南

[F]黑色金屬材料的非磁性膜厚度測(cè)量

[N]有色金屬材料的非導(dǎo)電膜厚度測(cè)量

[FN]用一根探針測(cè)量黑色金屬和有色金屬的厚度

[T]微型探針

[M]測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能,數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C

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