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  • F60對準自動膜厚測量系統(tǒng)
    F60對準自動膜厚測量系統(tǒng)

    日本filmetrics對準自動膜厚測量系統(tǒng)F60 F60自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是F50的高duan機型多種場景,具有缺口檢測充足、自動基線功能和互鎖機制勃勃生機。 只需將樣品放在載物臺上,然后單擊測量按鈕即可自動執(zhí)行對齊初步建立、基線和膜厚映射項目。

    時間:2025-05-03型號:F60
  • F50自動膜厚測量系統(tǒng)
    F50自動膜厚測量系統(tǒng)

    日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50 F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。 以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率重要方式。它支持從2英寸到450毫米的硅基板綜合運用,并且可以任何測量點相貫通。

    時間:2025-05-03型號:F50
  • F3-CS臺式膜厚測量系統(tǒng)
    F3-CS臺式膜厚測量系統(tǒng)

    日本filmetrics臺式膜厚測量系統(tǒng)F3-CS F3-CS是測量小樣品的最佳測量系統(tǒng)。與測量臺集成的測量系統(tǒng)使其易于攜帶脫穎而出。 只需將樣品的測量面朝下放置在載物臺上即可進行測量系統,約1秒即可測量出膜厚和折射率。

    時間:2025-05-03型號:F3-CS
  • F3-sX板厚測量系統(tǒng)
    F3-sX板厚測量系統(tǒng)

    日本filmetrics板厚測量系統(tǒng)F3-sX 可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度積極影響。 通過安裝最初開發(fā)的具有高波長分辨率的光譜儀方法,可以測量高達 3 mm 的厚膜。

    時間:2025-05-03型號:F3-sX
  • F10-RT反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)
    F10-RT反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)

    日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT F10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)進一步提升∵M行探討?赏瑫r測量反射率和透射率,并可輕松分析膜厚提供有力支撐、折射率和消光系數(shù)管理。 只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接,無需調(diào)整光學系統(tǒng)重要手段,無需復雜的設(shè)置穩中求進,而且設(shè)置非常簡單。

    時間:2025-05-03型號:F10-RT
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