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日本sasaki koki半導(dǎo)體玻璃用非接觸式測(cè)厚儀OZUMA2 通過空氣背壓法可以進(jìn)行非接觸式測(cè)厚(非接觸式測(cè)厚)求得平衡,不會(huì)造成劃痕和污染等損壞探索。不依賴于薄膜和顏色光澤等材料技術的開發,可以輕松進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測(cè)量(非接觸式厚度測(cè)量)實施體系。
日本sasaki koki半導(dǎo)體晶體非接觸式測(cè)厚儀OZUMA22 OZUMA 更新了用于半導(dǎo)體晶片(Si 硅晶片特點、GaAs多種場景、砷化鎵 Ga)科技實力、砷(As)、玻璃集中展示、金屬等的高精度非接觸式厚度測(cè)量裝置(非接觸式厚度測(cè)量裝置) . 非接觸式測(cè)厚儀OZUMA22用于控制半導(dǎo)體晶片(Si硅晶片齊全、GaAs、鎵(Ga)砷(As))在背面拋光過程中改造層面,或在每個(gè)制造過程中的厚度(厚度)機製。可用于(厚度)控制的非接觸式測(cè)量大面積。
日本olympus磁性測(cè)厚儀Magna-Mike 8600 瑪格納-麥克8600是一個(gè)簡(jiǎn)單的磁性測(cè)厚儀發力,可以重復(fù)地測(cè)量非磁性材料以高準(zhǔn)確度的壁厚。操作非常簡(jiǎn)單集成應用,小球或盤稱為目標(biāo)材料越來越重要的位置,電線問題分析,放置在或在測(cè)量對(duì)象一側(cè)上,通過在接觸與磁性探測(cè)從相反側(cè)你掃描解決方案,以夾住工件不負眾望。使用霍爾效應(yīng)測(cè)量探針和靶材料,并實(shí)時(shí)顯示一個(gè)大的顯示器上的測(cè)量值之間的距離的傳感器交流研討。
日本olympus超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS 創(chuàng)新的 38DL PLUS 預(yù)示著超聲波測(cè)厚儀的新時(shí)代推動並實現。該手持式測(cè)厚儀適用于大多數(shù)超聲波壁厚測(cè)量的檢測(cè)應(yīng)用,可與雙振型探頭和單振型探頭的所有探頭配合使用順滑地配合。38DL PLUS 可用于廣泛的應(yīng)用更加完善,從使用雙振蕩器型探頭對(duì)內(nèi)部腐蝕管道的減薄測(cè)量到使用單振蕩器型探頭對(duì)薄或多層材料的精確厚度測(cè)量。
日本olympus超聲波測(cè)厚儀 45MG 45MG是一款高性能超聲波測(cè)厚儀上高質量,除了標(biāo)準(zhǔn)的腐蝕測(cè)厚功能外精準調控,還支持各種軟件選項(xiàng)的精密測(cè)厚。它是一種一體化解決方案相對較高,通過支持奧林巴斯雙振蕩器和單振蕩器厚度測(cè)量探頭信息化,可用于廣泛的應(yīng)用。