日本yokogawa光譜分析儀AQ6375B

產(chǎn)品型號：

所屬分類：流變儀

產(chǎn)品時(shí)間：2025-05-03

簡要描述：日本yokogawa光譜分析儀AQ6375B
支持 2 μm 波段的長波長
高速高性能
波長范圍：1200-2400nm
波長精度：± 0.05 nm
波長分辨率：0.05nm
電平靈敏度：-70dBm

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日本yokogawa光譜分析儀AQ6375B

• 支持 2 μm 波段的長波長

• 高速高性能

• 波長范圍：1200-2400nm

• 波長精度：± 0.05 nm

• 波長分辨率：0.05nm

• 電平靈敏度：-70dBm

• 配備吹掃機(jī)構(gòu)

• 配備USB接口
  （可使用鼠標(biāo)/鍵盤/USB存儲器）

• 全高速遠(yuǎn)程接口
  （GP-IB、RS-232、以太網(wǎng)）

應(yīng)用

• 光纖通訊

• 半導(dǎo)體激光器/光纖激光器

• 用于氣體傳感/環(huán)境測量

• 用于醫(yī)療/生物醫(yī)學(xué)

• 用于空間光通信

• 光無源器件
  濾波器創造、FBG、特種光纖等分析。

日本yokogawa光譜分析儀AQ6375B

支持長波長 1200 nm 至 2400 nm

它不僅涵蓋用于通信的波長范圍，還涵蓋用于氣體傳感、醫(yī)療和生物技術(shù)等環(huán)境測量的近紅外范圍合規意識。

寬電平范圍 +20 dBm ~ –70 dBm

它可以測量高達(dá) -70 dBm聽得懂。它可以測量低功率光源和光學(xué)器件的輸出。
測量靈敏度可根據(jù)測量用途和測量速度等條件從 7 個(gè)級別中適當(dāng)設(shè)置協調機製。

AQ6375的白光源（黃色）和噪聲電平（紅色）測量波形

高分辨率 0.05 nm 至 2.0 nm

采用雙通單色器光學(xué)系統(tǒng)設備製造。
通過采用這種光學(xué)系統(tǒng)，可以實(shí)現(xiàn)高波長分辨率（0.05 nm）和寬近動態(tài)范圍（55 dB）先進水平，并且可以將信號附近的噪聲成分與信號分開測量重要的。

近動態(tài)范圍 55 dB 或更大
（峰值波長 ± 0.8 nm，分辨率設(shè)置 0.05 nm）

吹掃機(jī)制

在近紅外波長范圍內(nèi)共享，由于水蒸氣的影響高端化，存在觀察到強(qiáng)光吸收的波長區(qū)域，這可能會干擾測量姿勢。AQ6375B通過從背面的供氣口/排氣口向單色器內(nèi)部連續(xù)供給氮?dú)獾却祾邭怏w充分發揮，可以降低水蒸氣光吸收對測量的影響。

高階衍射光截止濾光片

原則上重要平臺，單色器產(chǎn)生的高階衍射光是入射光的整數(shù)倍相互融合。AQ6375B內(nèi)置高階衍射光截止濾光片，抑制小于1150nm的入射光生動，減少高階衍射光的影響提單產。

更高的效率

高速測量

高速插入

我們的專有技術(shù)在 100 nm 跨度上實(shí)現(xiàn)了 0.5 秒的掃描速度。與升級為單色儀的傳統(tǒng)測量系統(tǒng)相比綠色化，測量吞吐量得到了極大的提高設計。在雙倍速度模式下，您的測量速度最高可達(dá)標(biāo)準(zhǔn)模式下的兩倍。此時(shí)主動性，靈敏度下降約 2 dB發展。

高速指令處理和數(shù)據(jù)傳輸

通過采用新型處理器的高速指令處理和以太網(wǎng)，與傳統(tǒng)的 GP-IB 相比逐漸顯現，它提供高達(dá) 100 倍的數(shù)據(jù)傳輸速度十大行動。

[測量示例]

數(shù)據(jù)記錄功能

為 DFB-LD 分析和多峰測量記錄多達(dá) 10,000 個(gè)點(diǎn)。

采用自由空間結(jié)構(gòu)

支持多模光纖

光輸入部分采用自由空間結(jié)構(gòu)著力增加。這種結(jié)構(gòu)可以測量多模光纖和單模光纖體系。與輸入部分使用光纖的結(jié)構(gòu)相比，這種自由空間結(jié)構(gòu)具有出色的再現(xiàn)性背景下，測量值幾乎不會因光連接器的插入和移除而發(fā)生變化平臺建設。可以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確穩(wěn)定的測量。

標(biāo)配校準(zhǔn)光源

標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)置了用于波長校準(zhǔn)的參考光源服務延伸。只需一個(gè)按鈕即可進(jìn)行波長校準(zhǔn)和光軸調(diào)整的維護(hù)。

波長校準(zhǔn)

使用內(nèi)置參考光源（氣室）進(jìn)行校準(zhǔn)傳承。

光軸調(diào)整

自動調(diào)整單色儀內(nèi)部因移動時(shí)振動或沖擊引起的光軸偏差貢獻力量。