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產(chǎn)品型號(hào)：
所屬分類：其他設(shè)備
產(chǎn)品時(shí)間：2025-05-03
簡(jiǎn)要描述：日本ae-mic用于超高速芯片電阻檢測(cè)AE-162DD先進技術，F(xiàn)，G貢獻力量，J合作，K類，切屑前景，熔體，徑向和軸向電阻器的分揀機(jī)和編帶機(jī)的理想選擇
日本ae-mic用于超高速芯片電阻檢測(cè)AE-162D
D，F(xiàn)進一步，G宣講手段，J，K類發行速度，切屑極致用戶體驗，熔體，?徑向和軸向電阻器的?分揀機(jī)和編帶機(jī)的理想選擇
校準(zhǔn)后180天[校準(zhǔn)后1年：1.5倍]的測(cè)量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C）
日本ae-mic用于超高速芯片電阻檢測(cè)AE-162D
| 測(cè)量范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定范圍 | 實(shí)測(cè)電流 | 測(cè)量精度* | ||
|---|---|---|---|---|---|
| 慢 | 快速 | ||||
| 100毫歐 | 5mΩ-100mΩ | 100毫安 | ≤±0.02％±2a±2d | ≤±0.03％±3a±2d±[2 /（1 + n）] d | |
| 1Ω | 100.1mΩ?1Ω | 100毫安 | 在±0.02％±a±1d之內(nèi) | ≤±0.02％±a±2d±[2 /（1 + n）] d | |
| 10Ω | 1.001Ω?10Ω | 50毫安 | |||
| 100Ω | 10.01Ω-100Ω | 10毫安 | ±0.02％±1d以內(nèi) | 在±0.02％±2d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi) | |
| 1kΩ | 100.1Ω?1kΩ | 5毫安 | |||
| 10kΩ的 | 1.001kΩ?10kΩ | 0.5毫安 | |||
| 100kΩ的 | 10.01kΩ-100kΩ | 50微安 | |||
| 1兆歐 | 100.1kΩ?1MΩ | 5微安 | 在±0.05％±2d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi) | ||
| 10兆歐 | 1.001MΩ?10MΩ | 0.5微安 | ±0.03％±1d以內(nèi) | 在±0.2％±4d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi) | |
| 100兆歐 | 10.01MΩ?109MΩ | 0.05微安 | ±0.1％±2d以內(nèi) | ─── | |
* D =數(shù)字，n =積分時(shí)間（毫秒）應用，％測(cè)量：α=（100 /標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定值mΩ）x 0.01％解決方案，值測(cè)量：α= 0（加±1d）
*完整屏蔽狀態(tài)下的精度
| 測(cè)量時(shí)間 | 外部啟動(dòng) | 自由奔跑 | ||
|---|---|---|---|---|
| 慢 | 快速 | 慢 | 快速 | |
| 大約18毫秒-400毫秒 | 大約0.7毫秒-400毫秒 | 約30次/秒? 約2次/秒 | 約60次/秒? 約2次/秒 | |
| 測(cè)量端子開路電壓 | 15V以下 |
|---|---|
| 測(cè)量結(jié)束信號(hào)（EOC）脈沖寬度 | 1到250毫秒，并且可以連續(xù)設(shè)置 |
| 測(cè)量方式 | 4端子測(cè)量/ 2端子測(cè)量可切換 |
| 判斷值設(shè)定范圍 | ％測(cè)量：±99.99％成就，值測(cè)量：00000-20000 |
| 周邊環(huán)境 | 溫度：0°C至+ 50°C初步建立，濕度：80％以下 |
| 需要電源 | AC85V?265V，50Hz?60Hz密度增加，約50VA |
| 外形尺寸 | 333（w）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡膠腳等突起） |
| 重量 | 約3.5kg |
| 選項(xiàng) | ? GP-IB |
|---|---|
| ?數(shù)據(jù)傳輸線 | |
| ?短接（零歐姆標(biāo)準(zhǔn)電阻） | |
| ?轉(zhuǎn)換適配器（3P x2⇒5P） |
