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產(chǎn)品型號： 儀COSMOS-3X
所屬分類：物理性能檢測儀
產(chǎn)品時間：2025-05-03
簡要描述：日本電測densoku高精度熒光X射線膜測厚儀儀COSMOS-3X緊湊臺上與臺下，節(jié)省空間出色的可操作性允許以gao的精度測量極小的零件采用雙濾光片，具有g(shù)ao的精度技術創新，可以在jia條件下進行測量效高性，其他處理甚至可以在多任務(wù)處理能力的測量過程中進行報告，甚至可以使用小的準直器技術發展，以0.05φmm的極小部分進行測量
日本電測densoku高精度熒光X射線膜測厚儀儀COSMOS-3X
采用雙重過濾器
通過使用除數(shù)值濾波器以外的機械濾波器（雙重濾波器）重要的作用，可以在jia條件下進行測量，從而始終獲得gao的精度自動化。
完整的報告創(chuàng)建功能
通過采用MS-Windows軟件重要的意義，可以輕松捕獲測量屏幕，并增強報告創(chuàng)建功能規模最大。使用多任務(wù)功能關註度，即使在測量期間也可以進行包括報告創(chuàng)建在內(nèi)的其他處理。
5種準直儀
小準直儀為0.1φmm重要手段，可以測量極小的零件穩中求進。標(biāo)準，0.1不折不扣、0.2再獲、0.5技術的開發、1.0、2.0
另外更讓我明白了，有兩種特殊規(guī)格可供選擇健康發展。
? 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
? 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
自診斷功能和X射線管維護功能
使用自診斷功能，可以迅速解決設(shè)備故障飛躍。此外堅實基礎，增加了顯示X射線管使用時間和使用壽命的功能，以支持維護安全大數據。
膜厚測量中的頻譜顯示
通過多通道進行光譜分析高速處理使顯示被測物的光譜變得容易前景。（處理速度約2-3秒）
在測量部分顯示監(jiān)控圖像
在Windows屏幕上捕獲X射線照射單元并顯示X射線照射單元。準直儀提供了改變尺寸的放大倍率功能連日來。
Be 窗口X射線管（選件）提高的性能（高精度）
我們已經(jīng)為熒光X射線膠片厚度計準備了Be窗口X射線管保障性。
通過使用Be窗口X射線管，Cr測量和Ni測量的重復(fù)測量精度顯著提高信息化技術。
與標(biāo)準X射線管的比較
Sn等的高能量（高原子序數(shù)）測定與以前相同領先水平。
當(dāng)測量低能量（低原子序數(shù)）的Cr和Ni時，Cr的重復(fù)性提高了約3倍責任製，Ni的重復(fù)性提高了約2倍效率。
當(dāng)測量兩層時，中間層中Ni的測量精度提高了約20％雙重提升。
通過使用Be窗口X射線管增強，Cr的熒光X射線強度比常規(guī)標(biāo)準設(shè)備的熒光X射線強度高大約9倍。
因此結果，可以在短時間內(nèi)以與以前相同的精度進行測量戰略布局。
請考慮使用此Be窗口X射線管。
日本電測densoku高精度熒光X射線膜測厚儀儀COSMOS-3X
| 類型 | 手動階段 | ||
| 測量頭 | 尺寸（毫米） | 170 x 110 | |
| 運動量 | X（毫米） | 70 | |
| Y（毫米） | 70 | ||
| Z（毫米） | 80 | ||
| 被測物體高度（大） | 80 | ||
| 尺寸（毫米） | 402（寬）x 430（深）x 580（高） | ||
| 重量（公斤） | 48 | ||
| 樣品負荷（kg） | 3 | ||
| 電腦 | 尺寸（毫米） | 機身182（W）x 383（D）x 372（H） /顯示器412（W）x 415（D）x 432（H） | |
| 重量（公斤） | 主機6.8 /顯示器2.8 | ||
| 打印機 | 重量（公斤） | 3.4 | |
| 電源供應(yīng) | AC100V±10V的 | ||
（注）規(guī)格如有變更規則製定，恕不另行通知講道理。
| X射線源 | 油浸式微聚焦X射線管 靶：鎢 管電壓50kV， 管電流可變 |
| 照射方式 | 頂部垂直照射法 |
| 探測器 | 比例柜臺 |
| 準直儀 | 5種（自動切換類型） 0.1求索、0.2置之不顧、0.5、1.0性能穩定、2.0φmm （選件）：0.05、0.1規模、0.2數字化、0.3、0.5 作用，φ ：0.05×0.5開展攻關合作、0.5×0.05特點、0.1、0.2情況正常、0.5φ |
| 樣品觀察 | CCD彩色相機 |
| 電腦 | 兼容PC / AT的 15英寸彩色顯示器 |
| 打印機 | 噴墨打印機 |
| 測量對象 | 原子序數(shù)22（Ti）至82（Pb） 原子序數(shù)21以下可通過吸收法測定 |
| 過濾 | 2種（Co製度保障，Ni）自動切換 |
| 可測范圍 | 原子數(shù)22至24：0.02至約20μm 原子數(shù)25至40：0.01至約30μm 原子數(shù)41至51：0.02至約70μm 原子數(shù)52至82：0.05至約10μm |
| 校正曲線 | 自動校準曲線創(chuàng)建功能 多點校準曲線 |
| 校正功能 | 基礎(chǔ)校正 |
| 應(yīng)用 | 單層鍍層測量 兩層鍍層測量 三層鍍層測量 合金膜厚成分比同時測量 化學(xué)鍍鎳測量 |
| 測量功能 | 輸出樣式設(shè)定 頻譜測量 兩點之間的距離測量 |
| 數(shù)據(jù)處理功能 | 統(tǒng)計顯示：平均值，標(biāo)準偏差各領域，大值模式，小值，范圍集聚效應，Cp貢獻，Cpk 直方圖 輪廓顯示 x-R控制圖 |
| 安全功能 | X射線電源鑰匙開關(guān) 故障安全功能 |
| 其他特性 | 密碼功能 設(shè)備維護 |
