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產(chǎn)品型號：
所屬分類：光波計
產(chǎn)品時間：2025-05-03
簡要描述：日本yokogawa光波計 AQ6150B滿足從光器件到光傳輸器件的測量需求的高性能法治力量、高性價比光波長計“AQ6150B"AQ6150B 是基于邁克爾遜干涉儀的臺式光波長計。
日本yokogawa光波計 AQ6150B
AQ6150B 是基于邁克爾遜干涉儀的臺式光波長計調整推進。
波長精度±0.7ppm
波長范圍：900 至 1700 nm、1200 至 1700 nm研究成果、1270 至 1650 nm
測量時間 0.2 秒或更短（大約是 AQ6150 的兩倍）
一次最多可測量 1024 個波長的多波長型
增加了單波長類型
支持調(diào)制光和濾光片的測量
日本yokogawa光波計 AQ6150B
特征
| 模型 | 波長范圍 | 波長準(zhǔn)確性 | 最大值波長檢測次數(shù) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)模型 空氣質(zhì)量6150B | 標(biāo)準(zhǔn) | 第1270章1650nm | ± 0.7百萬分之一 | 1024（多波長類型） 1（單身的波長類型） |
| 波長擴張 | 1200~1700納米 | |||
| 寬帶 | 900~1700納米 | |||
AQ6150B 提供± 0.7 ppm 的精度發展契機，以滿足光學(xué)元件和WDM 傳輸設(shè)備檢測的精度要求。
AQ6150B基于內(nèi)置波長參考光源極其穩(wěn)定的光波長促進善治，通過實時校正講故事，實現(xiàn)長期高波長測量性能。
AQ6150B 的最小分辨率為 5GHz求索，可以同時高速置之不顧、準(zhǔn)確地測量每個輸入多達(dá) 1024 個波長。
因此性能穩定，它可以滿足現(xiàn)在和將來WDM傳輸系統(tǒng)開發(fā)和生產(chǎn)的測量需求試驗。
這種多波長批量測量能力還有助于提高光學(xué)器件生產(chǎn)的生產(chǎn)效率和成本。
例如數字化，組合和測量多個光學(xué)設(shè)備會增加每小時測量設(shè)備的數(shù)量并提高生產(chǎn)量新格局。
此外，通過測量系統(tǒng)的合理化開展攻關合作，有望降低設(shè)備成本特點、內(nèi)置光源的更換成本等維護(hù)成本。
檢查晶圓和 LD 芯片輸出可能僅測量單個波長情況正常。單波長型是適用于此類應(yīng)用的低成本光波長計製度保障。
光傳輸系統(tǒng)和光收發(fā)器輸出的以 10 Gbps、25 Gbps 甚至 100 Gbps 調(diào)制的光信號具有很寬的光譜寬度，因此可以使用不進(jìn)行光譜分析的單波長光波長計進(jìn)行精確測量顯示。很難技術特點。
AQ6150B除了一般的CW光測量模式外，還具有進(jìn)行光譜分析的調(diào)制光模式模樣，可以準(zhǔn)確測量調(diào)制信號等寬帶光信號的中心波長。
這種調(diào)制光模式還可用于測量 AWG 等濾波器的中心波長處理方法。
AQ6150B內(nèi)置自動增益控制功能數據顯示，可根據(jù)輸入功率自動調(diào)整電放大電路的增益。因此服務，即使是 -40dBm 的低輸入信號也能最大限度地提高波長精度和測量速度實現。
高速測量和高處理能力對于提高生產(chǎn)吞吐量尤為重要，因為波長可變的 LD 和光模塊調(diào)整和表征使用它們對每個設(shè)備執(zhí)行數(shù)百個光波長測量舉行。.. AQ6150B 可以在 0.2 秒內(nèi)執(zhí)行測量、分析，甚至將數(shù)據(jù)傳輸?shù)?PC習慣。這是我們傳統(tǒng)模型的兩倍記得牢。這極大地有助于提高生產(chǎn)量。在重復(fù)測量模式下適應性，每秒最多可以測量5次迎難而上，這對于在實時監(jiān)測波長的同時調(diào)整設(shè)備非常有用。
光波長計內(nèi)置的波長參考光源（He-Ne激光器）需要定期更換激發創作，更換的頻率和成本對光波長計的運行成本（生命周期成本）有很大影響更高效，增加。
如右圖所示探索，AQ6150B在推出時降低了初期投資成本，延長了波長參考光源的更換周期，并提供低價的更換服務(wù)重要作用，降低客戶的生命周期成本堅持先行。 .
借助 AQ6150B，您可以使用 GP-IB 或 ETHERNET 遠(yuǎn)程控制界面輕松構(gòu)建自動測量系統(tǒng)增幅最大。用于遠(yuǎn)程控制的控制命令基于測量儀器常用的可編程儀器標(biāo)準(zhǔn)命令（SCPI）影響，所以使用橫河的AQ6140系列光波長計和其他符合SCPI標(biāo)準(zhǔn)的光波長計。如果您正在使用競爭力，您可以輕松升級測量系統(tǒng)製高點項目，而無需更改測量程序。
