日本snk漂浮的細(xì)小顆粒檢查光源

產(chǎn)品型號： Parallel Eye D

所屬分類：光源

產(chǎn)品時(shí)間：2024-09-11

簡要描述：日本snk漂浮的細(xì)小顆粒檢查光源Parallel Eye D
*的多功能LED光源 不僅可以觀察漂浮的細(xì)顆粒不久前，還可以觀察粘附在表面的細(xì)顆粒和污垢。

聯(lián)系我們 在線咨詢

日本snk漂浮的細(xì)小顆粒檢查光源Parallel Eye D

*的多功能LED光源 不僅可以觀察漂浮的細(xì)顆粒工具，還可以觀察粘附在表面的細(xì)顆粒和污垢尤為突出。

[功能1]可以
從遠(yuǎn)程位置進(jìn)行可視化

僅可視化的光源，可以到達(dá)很遠(yuǎn)的地方

盡管LED通常不適合可視化微粒市場開拓，但我們已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了通過精que的光學(xué)設(shè)計(jì)可視化微粒的z佳光源標準。
盡管通常不可能將光源靠近實(shí)際位置，但Parallel Eye D可以將光從幾米遠(yuǎn)的距離傳遞到可視化目標(biāo)空間環境。

[功能2]
高靈敏度可視化

熒光燈下懸浮微粒的可視化

通過根據(jù)高感光度相機(jī)的感光度特性進(jìn)行設(shè)計(jì)主要抓手，我們實(shí)現(xiàn)了傳統(tǒng)普通光源所沒有的感光度。與
于細(xì)顆林匾慕巧?？梢暬某`敏相機(jī)“ Eyescope"結(jié)合使用時(shí)空間載體，即使在距光源幾米的距離處，也可以可視化微米級大小的細(xì)顆粒要落實好。
此外即將展開，如果使用了可選的濾鏡，即使在明亮的環(huán)境中進(jìn)行可視化攝影相對簡便，也可以在幾乎不降低感光度的情況下可視化顆粒創新科技。

[特征3]
也可以用作表面異物觀察光源

可視化表面附著的顆粒

通過與D-light相同的原理，只有粘附到表面的熒光粒子可以選擇性地可視化特性》諜C製？梢酝ㄟ^熒光顏色的差異來識別物質(zhì)的類型。

[功能4]
實(shí)現(xiàn)低價(jià)的細(xì)顆敛回摫娡?？梢暬到y(tǒng)

與圖像處理程序包結(jié)合使用時(shí)共同學習，可以觀察到懸浮顆粒和表面粘附顆粒的當(dāng)前狀態(tài)，并將其記錄在個(gè)人計(jì)算機(jī)上推動並實現。與低功率激光器相比，高靈敏度的氣流和細(xì)顆粒可視化已成為可能更加完善，并且成本相對較低薄弱點。

視覺可視化的z佳選擇“ Parallel Eye M"

<姐妹產(chǎn)品>
還有一種綠光類型，專門用于可視化粗顆粒和氣流示蹤劑精準調控。

日本snk漂浮的細(xì)小顆粒檢查光源Parallel Eye D

可視化系統(tǒng)配置的z佳解決方案

• 帶有小型CCD的圖像處理軟件包“ Particle Eye"效高，用于在PC上進(jìn)行實(shí)時(shí)圖像處理和記錄

• 具有于微粒可視化的靈敏度和功能的超高靈敏度相機(jī)是的超高靈敏度相機(jī)“ Eyescope"。

• 簡單的氣流速度分布測量軟件“ plus PIV"廣度和深度，可從氣流可視化圖像輕松獲得氣流速度分布

• “ D Light"發展機遇，一種工具，可以更容易地從表面的異物和污垢中看到熒光色

• “ D Scope"是一種工具性能，可以捕獲細(xì)顆粒的各種信息，并通過捕獲弱熒光將其轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)。

• 我們還提供現(xiàn)場評估服務(wù)強化意識，可使用細(xì)顆谅牭眠M？梢暬夹g(shù)和表面粘附的異物可視化技術(shù)分析異物的現(xiàn)狀和因素。?