日本snk漂浮的細小顆粒檢查光源

產品型號： Parallel Eye D

所屬分類：光源

產品時間：2024-09-11

簡要描述：日本snk漂浮的細小顆粒檢查光源Parallel Eye D
*的多功能LED光源 不僅可以觀察漂浮的細顆粒發展契機，還可以觀察粘附在表面的細顆粒和污垢穩定。

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日本snk漂浮的細小顆粒檢查光源Parallel Eye D

*的多功能LED光源 不僅可以觀察漂浮的細顆粒，還可以觀察粘附在表面的細顆粒和污垢齊全。

[功能1]可以
從遠程位置進行可視化

僅可視化的光源廣泛關註，可以到達很遠的地方

盡管LED通常不適合可視化微粒，但我們已經實現了通過精que的光學設計可視化微粒的z佳光源機製。
盡管通常不可能將光源靠近實際位置各項要求，但Parallel Eye D可以將光從幾米遠的距離傳遞到可視化目標空間。

[功能2]
高靈敏度可視化

熒光燈下懸浮微粒的可視化

通過根據高感光度相機的感光度特性進行設計發力，我們實現了傳統(tǒng)普通光源所沒有的感光度優勢與挑戰。與
于細顆粒可視化的超靈敏相機“ Eyescope"結合使用時越來越重要的位置，即使在距光源幾米的距離處問題分析，也可以可視化微米級大小的細顆粒。
此外解決方案，如果使用了可選的濾鏡不負眾望，即使在明亮的環(huán)境中進行可視化攝影，也可以在幾乎不降低感光度的情況下可視化顆粒技術。

[特征3]
也可以用作表面異物觀察光源

可視化表面附著的顆粒

通過與D-light相同的原理優化上下，只有粘附到表面的熒光粒子可以選擇性地可視化∽钚?？梢酝ㄟ^熒光顏色的差異來識別物質的類型發揮重要作用。

[功能4]
實現低價的細顆粒可視化系統(tǒng)

與圖像處理程序包結合使用時模樣，可以觀察到懸浮顆粒和表面粘附顆粒的當前狀態(tài)取得顯著成效，并將其記錄在個人計算機上。與低功率激光器相比數據顯示，高靈敏度的氣流和細顆霖熑?？梢暬殉蔀榭赡埽⑶页杀鞠鄬^低實現。

視覺可視化的z佳選擇“ Parallel Eye M"

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還有一種綠光類型持續向好，專門用于可視化粗顆粒和氣流示蹤劑。

日本snk漂浮的細小顆粒檢查光源Parallel Eye D

可視化系統(tǒng)配置的z佳解決方案

• 帶有小型CCD的圖像處理軟件包“ Particle Eye"，用于在PC上進行實時圖像處理和記錄

• 具有于微敛蝗莺鲆?？梢暬撵`敏度和功能的超高靈敏度相機是的超高靈敏度相機“ Eyescope"。

• 簡單的氣流速度分布測量軟件“ plus PIV"記得牢，可從氣流可視化圖像輕松獲得氣流速度分布

• “ D Light"組建，一種工具覆蓋，可以更容易地從表面的異物和污垢中看到熒光色

• “ D Scope"是一種工具，可以捕獲細顆粒的各種信息進展情況，并通過捕獲弱熒光將其轉換為數據重要的作用。

• 我們還提供現場評估服務，可使用細顆裂芯?？梢暬夹g和表面粘附的異物可視化技術分析異物的現狀和因素搶抓機遇。?