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產(chǎn)品型號： DS-110/D-20
所屬分類：超聲波測厚儀
產(chǎn)品時間：2025-05-03
簡要描述：日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211/DS-110/D-20
測量了在非磁性金屬（鋁應用，銅建言直達，黃銅）上的非導(dǎo)電膜統籌發展，在鋼上的各種鍍層日漸深入，在非金屬上的銅各領域，鍍銀等，它們在基底和膜之間的導(dǎo)電性差異很大技術特點。它可以實現(xiàn)高度穩(wěn)定和高精度的膜厚測量的有效手段。
日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211/DS-110/D-20
測量了在非磁性金屬（鋁，銅保持競爭優勢，黃銅）上的非導(dǎo)電膜提升，在鋼上的各種鍍層，在非金屬上的銅情況，鍍銀等，它們在基底和膜之間的導(dǎo)電性差異很大。它可以實現(xiàn)高度穩(wěn)定和高精度的膜厚測量等多個領域。
?可以在短時間內(nèi)進行檢查
?由于無損等形式，因此非常適合100％檢查
?采用晶體振動法，精度高
?可以測量10 nm以上的非金屬沉積
日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211/DS-110/D-20
渦流膜厚儀DMC-211
高速和可操作性
短時間組合運用，無損測量適合100％檢查
?在1秒內(nèi)進行無損測量，非常適合100％檢查
?使用個人計算機進行校準
?測量等簡便操作?只需將探頭放到測量對象上即可自動捕獲測量值
?特性曲線（校準曲線）
每個通道注冊了70個標(biāo)準存儲器高質量，公司名稱研究與應用，零件號，批號
通過安裝自動捕獲模式迎難而上，可以輕松測量膜厚有效保障。PC顯示器。
數(shù)字顯示測量值更高效，讀數(shù)
在短時間內(nèi)（1秒以內(nèi)）稍有不慎，大多數(shù)金屬上的膜（鋁上的氧化膜，鋅/鉻鍍層/鐵上的油漆），大多數(shù)非金屬上的金屬膜（塑料上的鍍層等）無損測量使其成為100％檢查的理想選擇全面協議。
使用個人電腦易于操作
通過使用個人計算機，諸如校準和測量的操作容易堅持先行≈v實踐？梢赃x擇各種測量模式，從而更容易測量小零件具體而言，例如螺釘頭最為顯著，線材和壓鑄產(chǎn)品。
配備[自動拍攝]模式
在[自動采集]模式下奮戰不懈，您只需將探頭放在要測量的對象上并釋放它生產能力，就可以自動加載測量值。
特征曲線（校準曲線）的大量存儲
作為標(biāo)準配置規定，用于自動選擇的70條特性曲線（校準曲線）存儲在存儲器中可持續。如果您有用于特殊材料的標(biāo)準板措施，則可以創(chuàng)建并輸入新的特性曲線（校準曲線）。
渠道注冊功能獲取公司信息
可以為每個通道注冊對方的公司名稱業務，零件號和批號形式。
總頻道：40個頻道
配備統(tǒng)計處理功能
可以保存每個通道的測量數(shù)據(jù)，然后可以設(shè)置統(tǒng)計項目并進行統(tǒng)計處理非常完善。
測量單位
測量單位為毫米傳遞，微米，密耳不斷完善，密耳發揮效力。
單位可以隨時更改，測量值將自動轉(zhuǎn)換勞動精神。
| 當(dāng)使高頻電流通過的探針（測量元件線圈）接近金屬時穩定發展，在金屬表層產(chǎn)生渦電流。該渦電流受高頻磁場的強度明顯，頻率更好，金屬的電導(dǎo)率，厚度基礎上，形狀等的影響安全鏈，并且穿透深度和其尺寸不同。 渦流流動從而抵消了探頭的高頻磁場預下達，因此探頭的高頻電阻值發(fā)生了變化增持能力。高頻電阻變化的幅度通常與薄膜厚度不成比例，因此請將其與內(nèi)部或用戶創(chuàng)建的特性曲線（校準曲線）進行比較創新為先，然后將其轉(zhuǎn)換為薄膜厚度值提高鍛煉。顯示它。 |
| 型號（主體） | Dermes DMC-211型 |
| 原理 | 渦流法 |
| 測量方式 | 厚度測量 |
| 通道數(shù) | 40個頻道 |
| 資料容量 | 100,000個數(shù)據(jù) |
| 顯示 | 通過電腦監(jiān)控畫面 |
| 統(tǒng)計處理 | 大值行業內卷，小值進行培訓，平均值，標(biāo)準差凝聚力量，直方圖應用情況，上限和下限設(shè)置 |
| 電源供應(yīng) | AC100-240V，50 / 60Hz 10VA（主體） |
| 重量 | 3.0公斤 |
| 尺寸 | 280（寬）x 230（深）x 88（高）毫米 |
（注）規(guī)格如有變更，恕不另行通知也逐步提升。
| 1. 探頭有效范圍使用超細探頭時 | φ5毫米 φ3毫米 |
| 2.探針線的長度 | 900毫米 |
| 3.根據(jù)導(dǎo)軌的類型可以在曲面上進行測量 | |
| 4.探頭類型 | MP型...用于平凹曲面（標(biāo)準） SM型...用于平凹曲面（超細） RP型...凹曲面，管道內(nèi)表面 SR型…小直徑管道內(nèi)表面對于 上述探頭能力和水平，A組織了，B有四種類型，C和D提供了有力支撐。 |
| 5.探針指南 | ＃180：用于平面測量 ＃120：用于直徑25-60mm的凸曲面測量 |
渦流膜厚儀DS-110
您可以測量曲面和球體以及管道內(nèi)部飛躍。
渦流膜厚儀D-20
便攜式且緊湊堅實基礎。只需更換刻度盤，它就可以用作的測量儀器大數據。
