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日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ

日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ

產(chǎn)品型號:

所屬分類:光源

產(chǎn)品時間:2025-05-03

簡要描述:日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ
太陽能光譜儀S-2440modelⅡ設計用于太陽或太陽模擬器光譜輻照度的測量積極影響。儀器的光譜響應針對太陽光譜進行了優(yōu)化有所提升,并且通過采用具有高靈敏度的檢測器了解情況、高效率的分光儀參與能力、高效能數(shù)據(jù)處理程序和軟件,實現(xiàn)了測試的高度精que性長期間。

詳細說明:

日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ

摘要

太陽能光譜儀S-2440modelⅡ設計用于太陽或太陽模擬器光譜輻照度的測量新的力量。儀器的光譜響應針對太陽光譜進行了優(yōu)化,并且通過采用具有高靈敏度的檢測器是目前主流、高效率的分光儀分享、高效能數(shù)據(jù)處理程序和軟件,實現(xiàn)了測試的高度精que性便利性。

特點

新設計的電子器件

為了降低溫度和噪聲導致的不穩(wěn)定開展研究,所有的電子回路進行了新的設計,本產(chǎn)品不僅避免了發(fā)射的噪聲信息化,而且抑制了回路中的噪聲力量。

1. SOMA舊的型號的比較

針對太陽模擬器的測試進行了優(yōu)化

儀器的光譜響應進行了調(diào)整,以保證對太陽模擬器的準確測試。為了實現(xiàn)這一特點方式之一,儀器在紫外和近紅外區(qū)域的噪音水平進行了改善。

脈沖光源的同步測量

上一代產(chǎn)品只能在脈沖開始后對光譜進行測量深刻認識。本產(chǎn)品能夠在脈沖開始前對光譜進行測試首要任務。這一功能稱為事件觸發(fā)模式。

事件觸發(fā)模式通過采用重新設計的回路和軟件來實現(xiàn)新型儲能。在這一模式下深入實施,儀器對光譜進行連續(xù)測試。因此不同需求,脈沖前的光譜可以回歸得到業務指導,并且也可以得到脈沖后的光譜。計時信號由嵌入反射型擴散板的硅光電二極管產(chǎn)生發展空間。計時信號和光強水平可以在0.01~1sun范圍內(nèi)進行調(diào)整溝通協調。

采用顯著余弦特征的反射型擴散板

尺寸:H15×W60×D80/φ40mm

高持久耐用并且易于保持其特點。本產(chǎn)品具有強的反射和顯著地余弦特征提供堅實支撐。

注意:當光纖和擴散器更換時,需要對儀器進行重新校準。

光譜匹配評價標準

JIS C 8912-2011/IEC 60904-9(ED-2)-2007 (結(jié)晶系太陽能電池及組件的太陽模擬器)

JIS C 8933-2011(非結(jié)晶系太陽能電池及組件的太陽模擬器)

JIS C 8942-2009 (多結(jié)太陽能電池及組件的太陽模擬器)

ASTMDirect AM1.5向好態勢、Global AM1.5-2009

所有標準的太陽模擬器的光譜匹配評價均可實現(xiàn)。

光譜匹配(A,B,C)可以在測試之后立即計算創新科技。

日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ

光譜輻照度的測試軟件

測試參數(shù)

光譜輻照度(μW/cm2/nm):測試數(shù)據(jù)以曲線圖的形式示于顯示器中更默契了,文本數(shù)據(jù)(間隔1nm)也可以得到。

光譜匹配度:數(shù)據(jù)列表中的任意光譜數(shù)據(jù)均可以進行評價服務機製。所選取的數(shù)據(jù)的光譜匹配度可以立即示于顯示器中流程。測試模式

  1. 基本測試 主要用于連續(xù)光測試

  2. 重復測試 可固定時間間隔重復測試

  3. 事件引發(fā)模式 用于發(fā)射脈沖測試共創輝煌,引發(fā)脈沖前后的光譜均可得到

  4. 標準測試 通過對比標準發(fā)光器的光譜輻照度對產(chǎn)品進行校正等特點。

    事件引發(fā)模式

事件引發(fā)模式檢測器

  1. 可以觀察引發(fā)脈沖的波形

  2. 引發(fā)脈沖的光強可以從0.01~1sun范圍內(nèi)進行調(diào)整使用。調(diào)整可以通過拖動滑塊SW方便操作。

  3. 可以選擇引發(fā)脈沖前后光譜的數(shù)目

  4. 可以選擇引發(fā)脈沖之后延遲的時間

標準配置

主機

附光纖反射型擴散板(L=0.9m

觸發(fā)器線纜(L=0.9m

光譜輻照度測試軟件

USB線纜(L=2.0m

交流電適配器(LTE24E-S2-3

檢驗單

主要規(guī)格

型號

S-2440   model /HIDAMARI mini

波長

300~1100nm

半波長

5nm

曝光時間

1~1000毫秒

入射光學系統(tǒng)

附光纖反射型擴散板(L=0.9

PTFE   φ40mm

光纖(石英不合理波動,核心φ0.8mm

注:附光纖反射型散射板無法與主機斷開

測試項目

分光輻射照度測定(μW/cm2/nm)建言直達,光譜匹配度評價

光譜匹配度評價標準:

JIS   C 8912-2011JIS C 8933-2011助力各業, JIS C 8942-2009大部分,IEC 60904-9(ED-2)-2007ASTMDirect   AM1.5將進一步、Global AM1.5-2009

測試模式

基本測試  重復測試

事件引發(fā)模式  標準測定

操作系統(tǒng)

Windows8/7/Vista32位更加堅強,64位)

(個人計算機不包括在內(nèi))

交流/直流轉(zhuǎn)換器

ADC   16

通訊接口

USB   2.0

數(shù)據(jù)格式

CSV文本數(shù)據(jù)(數(shù)據(jù)以每1nm輸出)

數(shù)據(jù)保存

高達1000個光譜數(shù)據(jù)

溫度和濕度

10~35,相對濕度80%或更低實際需求,無凝結(jié)

電源

直流電12V   2A

功率損耗

交流電100~240V  50/60Hz (直流電適配器 LTE24E-S2-3

尺寸/重量

19H)×210W)×(D/5kg

選項

標準光源裝置配套設備,漫反射面固定裝置





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